吉時利2510精密溫控源表(Keithley 2510 TEC SourceMeter)是一款集高精度溫度控制與電學參數測量于一體的多功能儀器，專為半導體、光電器件及材料研究的溫度依賴性測試設計。

　　KEITHLEY吉時利2510和2520-AT精密溫控源表增強了吉時利對激光二極管的高速LIV(光強-電流-電壓)特性測試的完整性。這兩個50W功率雙極性源表儀器，專門針對光通信網絡的激光二極管模塊的測試應用而設計的，用于保證被測試器件的嚴格控溫。KEITHLEY吉時利2510是第一個專門創造出給光通信激光二極管測試所用的控溫儀器，將吉時利的高速直流電源和精密測量能力集合在一起，形成對激光二極管模塊的熱電型制冷器即TEC的精確溫度控制的能力。

　　一、光電測試中的典型應用

　　1. 溫度依賴型光電特性分析

　　LED/激光二極管效率測試

　　測量不同溫度下器件的 發光強度-電流(L-I)曲線 和 正向電壓(Vf)漂移，評估熱穩定性。

　　太陽能電池性能評估

　　標定 光電轉換效率(PCE)的溫度系數，分析高溫/低溫環境對輸出功率的影響。

　　光電探測器響應度測試

　　在溫控條件下，量化探測器 暗電流隨溫度的變化，優化信噪比設計。

　　2. 半導體材料與器件表征

　　禁帶寬度(Eg)溫度特性

　　通過變溫 IV曲線 和 CV曲線，計算半導體材料的Eg溫度系數。

　　載流子遷移率測量

　　結合霍爾效應測試，分析溫度對載流子濃度和遷移率的影響。

　　器件可靠性測試

　　執行溫度循環(-40°C ? +125°C)下的 老化試驗，監測參數漂移。

　　3. 新型材料研究

　　熱電材料優值系數(ZT)測試

　　同步測量材料的 塞貝克系數、電導率、熱導率，計算ZT值。

　　相變材料電學行為

　　研究溫度誘導相變(如VO?)過程中電阻突變特性。

　　二、典型測試配置示例

　　案例：激光二極管溫控L-I-V測試

　　硬件連接

　　激光二極管 → 2510的Force+/Sense+端

　　TEC制冷片 → 2510的TEC+/-端

　　光功率計(如Newport 2936-C)通過GPIB/USB與2510聯動。

　　測試流程

　　設定目標溫度(如25°C/50°C/75°C)，啟動TEC控溫。

　　以1mA步長掃描注入電流(0~100mA)，同步記錄：

　　電壓(Vf)

　　光功率(通過光功率計反饋)

　　結溫(通過TEC驅動功率反推)。

　　數據分析

　　繪制 L-I-V曲線簇，計算斜率效率的溫度依賴性。

　　標定熱阻(Rth)和特征溫度(T?)。

　　三、選型與使用建議

　　適用場景：需精確溫控的光電器件研發、半導體可靠性驗證、材料科學實驗室。

　　升級選項：

　　搭配 探針臺 進行晶圓級測試。

　　集成 LabVIEW/Python 開發自動化溫變-電學掃描程序。

　　替代方案：若無需溫控，可選用Keithley 2450源表;若需超低溫(<-40°C)，需外接液氮制冷系統。

　　通過吉時利2510，用戶可在單一平臺上實現溫度-電學-光學多維參數關聯分析，顯著提升研發效率與數據可靠性。